OSC Low-E
Low-E 镀膜产线软件：调片更快、数据更透明、质量更稳定
从新品开发到日常调片，膜系设计、反演拟合、折射率拟合、均匀性控制和数据管理都在一套软件里完成。
Low-E 产线上的三个老问题
OSC Low-E 就是为解决这些问题而开发的。
调片靠老师傅，慢且难复制
换膜系、调颜色往往要上机试好几轮，结果取决于调试人员的经验。人一换，效率和稳定性就跟着变。
开发新品要占用产线
仿样、按颜色定做，都得在线上反复试片；有时试了很多轮，才发现现有靶材根本做不出来。机时、靶材、原片都白白消耗。
出了问题，说不清原因
颜色偏差、均匀性波动、干扰色……数据散落各处，根因难以追溯，也拿不出有说服力的依据去推动工艺、设备和质检一起整改。
核心功能
覆盖 Low-E 产品从设计、调片到生产管理的全过程
膜系开发
根据客户的光谱或颜色目标，先在软件里把膜系设计出来，不占用产线时间。可以换膜结构、换材料做模拟，提前估算生产效率和成本；做不出来或不划算的，上机之前就能知道。
- 光谱和颜色目标可同时使用，权重可调
- 同时优化透过、膜面反射、玻面反射，支持多角度
- 角度变化和干扰色模拟
反演拟合（调片）
读入测试光谱，按标准膜系反演出每一层的实际膜厚，与标准膜系对比后，直接给出各层的调整方向和调整量。反演的速度和准确度，直接决定产线的运转效率和产品质量。
- 标准光谱、测试光谱、模拟光谱实时对比
- 按工艺参数给出调整量，附误差分析
- 支持常见的在线、离线光谱仪，一键导入
折射率拟合
不需要椭偏仪，用分光光度数据就能拟合出基板和膜层材料的光学常数（n、k），让模拟结果贴近你产线上真正在用的材料。
- 基板和膜层材料都能拟合
- 内置材料色散模型库
- 多角度光谱数据，拟合收敛更稳
工艺大师：均匀性控制
对靶材、工艺室、挡板、气体分布等影响均匀性的因素建模，支持开仓调整和实时调整两种方式。生产中实时读取每一片玻璃的光谱，持续监控横向均匀性。
- 大板玻璃横向膜厚分布监控
- 把老师傅的经验转成修正系数，结果可追踪
- 配置开放，适配不同产线和工艺
工艺与生产数据管理
膜系、材料折射率、镀膜参数、调片记录和光谱统一存档、随时检索。经验不再只留在个人手里，问题也能追溯到具体的批次。
- 工艺配方和调片过程集中管理
- 历史光谱和设备问题记录可查询
- 按岗位分级授权，操作日志可审计
为工厂环境设计
数据留在厂内，部署和授权按你的产线来
本地部署，数据不出厂
可以完全离线运行，核心算法和工艺数据都保存在企业内网。
权限分级，操作可追溯
按岗位设置读写权限，操作日志可审计，数据库加密并定期备份。
灵活授权，多厂部署
固定授权和便携授权可组合，支持多用户、多工厂统一管理。
四种语言界面，本地支持
软件界面支持中文、英文、日文、繁体中文；提供上线培训、案例指导和及时的技术支持。
典型用户
已在南玻、福耀、金晶、物华天宝等企业的多家工厂部署使用，以三银、双银产品线为主。
